XRF是 X射線熒光光譜分析（X-ray Fluorescence Spectroscopy）的簡(jiǎn)稱。它是一種非破壞性檢測(cè)技術(shù)，通過測(cè)量物質(zhì)受激發(fā)后產(chǎn)生的X射線熒光來確定樣品中元素的種類和含量。XRF技術(shù)廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、環(huán)境保護(hù)、食品安全等領(lǐng)域。
XRF分析的主要步驟包括：
確定每個(gè)峰的強(qiáng)度：
即總計(jì)數(shù)，也稱每個(gè)峰的凈面積，需要扣除背景、校正逃逸峰和其他損失的峰，分離重疊峰。
校正探測(cè)器及其窗口的靈敏度、幾何效應(yīng)和激發(fā)光譜。
校正基體效應(yīng)。
常見的XRF分析軟件包括：
AMPTEK的XRS-FP2軟件。
UniQuant軟件，適用于無標(biāo)XRF分析。
XRF-FP軟件包，用于將元素峰值強(qiáng)度轉(zhuǎn)換為元素濃度或薄膜厚度。
FISCHERSCOPE? X-RAY儀器的WinFTM?軟件，用于涂鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
這些軟件可以幫助用戶更準(zhǔn)確、高效地進(jìn)行XRF分析，從而獲得所需的元素含量和材料信息。
